Analytik Jena 高分解能連続光源原子吸光分析装置 ContrAAシリーズ

製品名高分解能連続光源原子吸光分析装置 contrAA 800 F 概算価格（税込）：￥7,150,000～高分解能連続光源原子吸光分析装置 contrAA 800 G 概算価格（税込）：￥10,450,000～高分解能連続光源原子吸光分析装置 contrAA 800 D 概算価格（税込）：￥12,650,000～contrAA － 卓越した技術アナリティクイエナが世界で初めて開発したCSX法(キセノン連続光源バックグラウンド補正法)を搭載した革新的な高感度高分解能連続光源原子吸光分析装置です。 従来の原子吸光分析装置の持つ堅牢性、操作性に加え、ICP発光分析に匹敵する多元素シーケンシャル測定を可能にしました。 近接線の影響を受けない高精度な同時バックグラウンド補正機能と、スペクトル干渉補正機能によって、測定結果の正確さと信頼性が著しく向上しました画期的なCSX法 (キセノン連続光源バックグラウンド補正法)高分解能エシェル分光器搭載 (0.002nm / 200nm)キセノン連続光源 / CCD検出器で多元素シーケンシャル 迅速測定(フレーム測定時)原子吸収のみならず分子吸収の活用で新たな分析能力が 拡充2次元、3次元データ表示による詳細なデータ解析ファーネス法での固体試料の直接分析が可能(オプション: 固体サンプラー)オートサンプラーでデータの信頼性と効率化に優れた自動化世界唯一光学系10年保証(10年間で1回の交換を保証)■各種装置contrAA 800 F － フレーム専用タイプ水素化物測定にも対応contrAA 800 G － ファーネス専用タイプ液体、固体両方の試料分析に対応contrAA 800 D － フレーム、ファーネス両用タイプ水素化物および液体、固体両方の試料分析に対応【仕様】モデルcontrAA 800 FcontrAA 800 GcontrAA 800 D測定モードフレーム原子吸光分析ファーネス原子吸光分析フレーム/ファーネス原子吸光分析測定波長範囲185～900nmランプキセノンランプバックグラウンド補正法キセノン連続光源補正法（CSX法）検出器半導体検出器（CCD）サイズW780×D775×H625mm重量140kg170kg180kg